镀层测厚仪FT110

FT110A X射线荧光镀层厚度测量仪特长

1.通过自动定位功能提高操作性

测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大提高样品定位的操作性。

2.微区膜厚测量精度提高

通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。

3.多达5层的多镀层测量

使用薄膜FP法软件，即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。

4.广域观察系统（选配）

可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。

5.对应大型印刷线路板（选配）

可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。

6.低价位

与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格。

FT110A X射线荧光镀层厚度测量仪规格

选购项

•图像处理软件
•块体FP软件（材料组成分析）
 块体检量线软件（电镀液分析