X 射线荧光光谱分析仪

产品优势及特征

• 产品优势；

1. 镀层检测，最多镀层检测可达 5 层，精度及稳定性高（见以下产品特征详述）。

2. 平台尺寸：620*525mm，样品移动距离可达 220*220*10mm。（固定台可选）

3. 激光定位和自动多点测量功能。

4. 可检测固体、粉末状态材料。

5. 运行及维护成本低、无易损易耗品，对使用环境相对要求低。

6. 可进行未知标样扫描、无标样定性，半定量分析。

7. 操作简单、易学易懂、精准无损、高品质、高性能、高稳定性，快速出检测结

果。

8. 可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件。

9. 软件终身免费升级。

10. 无损检测，一次性购买标样可永久使用。

11. 使用安心无忧，售后服务响应时间 24H 以内，提供全方位服务。

12. 可以远程操作，解决客户使用中的后顾之忧。

 

(二）产品特征；

1. 高性能高精度X荧光光谱仪（XRF）

2. 计算机 / MCA(多通道分析仪)

2048 通道逐次近似计算法 ADC（模拟数字转换器）。

3. Multi Ray. 运用基本参数（FP）软件，通过简单的三步进行无标样标定，使用

基础参数计算方法，对样品进行精确的镀层厚度分析。可以增加 RoHS 检测功能。

4. MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度及全元素分析

励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2线性模式进行薄镀层厚度测量相对（比）模式无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497多镀层厚度同时测量

5. Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7 软件操作系统

6. 完整的统计函数均值、 标准差、 低/高读数，趋势线，Cp 和 Cpk 因素等
7. 自动移动平台，用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量。最大测量点数

量 = 每 9999 每个阶段文件。每个阶段的文件有最多 25 个不同应用程序。特殊工具如"线扫描"和"格栅"。每个阶段文件包含完全统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能。

产品配置及技术指标说明

u 测量原理：能量色散 X 射线分析	u 样品类型：固体/粉末
u X 射线光管：50KV，1mA	u 过滤器：5 过滤器自动转换
u 检测系统 u SDD探测器(可选 u sipin)	u 能量分辨率：159eV（SDD:125eV）
u 检测元素范围：Al (13) ~ U(92)	u 准直器孔径：0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可选)
u 应用程序语言：韩／英／中	u 分析方法：FP/校准曲线，吸收，荧光
u 仪器尺寸：840*613*385mm	u 样品移动距离：220*220*10 mm（自动台）

 

1. X 射线管：高稳定性 X 光光管，使用寿命（工作间>18,000 小时） 微 焦点 X 射线管、

Mo (钼) 靶铍窗口， 阳极焦斑尺寸 75um，油绝缘，气冷式，辐射安全电子管屏蔽。50kV，1mA。高压和电流设定为应用程序提供最佳性能。

2. 探测器：SDD 探测器（可选Si-Pin）能量分辨率：125±5eV（Si-Pin:159±5eV）

3. 滤光片/可选初级滤光片：Al滤光片，自动切换7个准直器：客户可选准直器尺寸或

定制特殊尺寸准器。(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )

4. 平台：软件程序控制步进式电机驱动 X-Y 轴移动大样品平台。激光定位、简易荷载最

大 负载量为 5 公斤软件控制程序进行持续性自动测量

5. 样品定位：显示屏上显示样品锁定、简易荷载、激光定位及拍照功能

6. 分析谱线：

2048通道逐次近似计算法ADC（模拟数字转换）

基点改正（基线本底校正）

密度校正Multi-Ray软件包含元素ROI及测量读数自动显示

 

 

7. 视频系统：高分辨率 CCD 摄像头、彩色系统

观察范围：3mm x 3mm

放大倍数：40X

照明方法：上照式

 

8. 计算机、打印机（赠送）

1）含计算机、显示器、打印机、键盘、鼠标

2）含Win 7/Win 10系统。

3）Multi-Ray镀层分析软件